牛津仪器推出最新款高性能X射线荧光测厚仪MAXXI 6，提供高精度、快速可靠无损的镀层厚度测量及材料分析，确保产品质量的一致性和高品质。
此款镀层测厚仪MAXXI 6是基于X射线荧光光谱分析技术所开发，配备最先进的高分辨率硅漂移器（SDD）、多准直器系统及开槽式超大样品舱设计，针对较薄而复杂的样品，具有完美的解决方案。MAXXI 6 可分析固体和液体，元素范围包括从元素周期表中的13Al到92U。
MAXXI 6在五金电镀行业、RoHS/WEEE/ELV一致性检验、电子行业、金属合金行业、能源行业等都表现出了卓越的成分分析能力，可进行多镀层厚度的测量。无论您是用于电路板、电子元件或批量零件的镀层厚度测量，还是用于贵金属镀层厚度测量，如银层测厚、金层测厚、铬层测厚等，我们相信MAXXI 6都将会为您提供理想的解决方案。
MAXXI 6的完美表现：
●最多同时测定5层，15种元素及共存元素的校正
●同时实现多于25种元素的定量分析
●德国制造，符合最高工程标准，坚固耐用的设计可实现长期可靠性
●通过PTB（Physikalisch Technische Bundesanstalt）认证，满足最高辐射安全标准
MAXXI 6的操作非常简单，三步即可完成：
1. 将样品放在大样品台上
2. 选择样品测量点
3. 点击开始
牛津仪器Roentgenanalytik GmbH的全球服务及台式X荧光设备总经理NEUHAUSEN Olaf先生说：我们一直致力于研发高端而又简单易用的镀层测厚仪，而MAXXI 6正好满足了这两项要求，目前市场上还没有产品能够达到这个标准。
