产品优势
快速分析:创新性地协同使用X射线透射成像与先进的X射线荧光光谱。先透视定位后精准扫描,使得EA8000A 的分析速度与单纯扫描的方法相比成倍加快。例如,仅需30分钟便可在200 x 250mm区域内对尺寸为20µm的金属颗粒进行检测和成分分析。
自动操作:EA8000A 可通过X射线投射图像检测金属异物,随后使用XRF技术自动扫描这些区域。
具有检测嵌入式异物的能力:日立采用的成像技术可确保在整个样品体积内检测出金属异物。先进的XRF毛细管光学机构提供高度聚焦和强X射线光束,可分析电极板及有机薄膜表面下的金属异物。
支持大批量生产:EA8000A 具有多功能性、高速度和自动化特性,可支持大批量生产。其能快速完成扫描,因此非常适合原材料分析、过程控制和故障分析,确保锂离子电池生产的各方面都符合质量标准。
规格&参数
内容 |
EA8000A |
---|---|
高分辨率硅漂移探测器 |
是 |
毛细管XRF光学机构 |
是 |
元素范围 |
Al - U |
操作 |
Windows PC |
XY平台 |
电动自动操作 |
样品配置 |
固体、粉末、浆液 |
样本尺寸上限 |
250(宽)x200(深)x50(高)mm |
自动数据存储 |
是 |